Крюкова, Л. М. Оценка параметров наноструктурного состояния: комплексный подход и математический аппарат исследования и обработки экспериментальных данных [Текст] / Л. М. Крюкова, Е. А. Макалкина, С. В. Салихов> // Материаловедение. - 2010. - N 8. - С. 8-11.
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): наноструктурные состояния -- метод электронной микроскопии -- рентгеноструктурный анализ -- диффузное рассеяние -- поля упругих смещений -- мощности наноразмерных дефектов Аннотация: На основе электронно-микроскопического и рентгеноструктурного методов исследования разработан комплексный подход и математический аппарат обработки экспериментальных данных для получения характеристик наноструктурного состояния. Доп.точки доступа: Макалкина, Е. А.; Салихов, С. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |