Количественный безэталонный анализ концентрации изотопов {28, 29, 30}Si в кремнии методом ВИМС на установке TOF. SIMS-5 [Текст] / М. Н. Дроздов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 1. - С. 84-86 : Рис. - Библиогр.: c. 86 (5 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Аналитическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): вторично-ионная масс-спектрометрия -- изотопы {28, 29, 30}Si -- количественный безэталонный анализ -- концентрация изотопов -- кремний -- метод ВИМС -- плазмохимическое осаждение -- установка TOF. SIMS-5 Аннотация: Показана возможность количественного безэталонного определения содержания изотопов {28-30}Si в образцах кремния методом ВИМС на установке TOF. SIMS-5. Доп.точки доступа: Дроздов, М. Н.; Дроздов, Ю. Н.; Пряхин, Д. А.; Шашкин, В. И.; Сенников, П. Г.; Поль, П. Г. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |